最先端の自社製バウンダリスキャンテスター（BST）Lancaster-V1

熟練したテストエンジニアリングチームにより構築されたこれらのバウンダリスキャンソリューションは、FPGA制御下のインサーキットテスト環境内で1149.1テストを実行できるように細心の注意を払って設計されています。Lancaster-V1は、既存のテスター計測ハードウェアを活用してBSTベクトルをシームレスに適用し、全体的なテスト障害検出率を高めます。とりわけ、バウンダリスキャンテストを変換キットや電源などの補助ハードウェアなしで実行でき、テストにおける革新と効率に対するAmkorのコミットメントの証です。

対象アプリケーション

▶︎デジタル – ASIC、データ通信、FPGA、ADASコントローラ、チップセット、グラフィック＆アプリケーション
プロセッサ、マイクロコントローラ

▶︎SoC & SiP – ミックスドシグナル、オーディオ/ビデオ
プロセッサ、ADC/DAC、PMIC、MCM

▶︎Lancaster V1は、信頼性が高く、低コストでテスト時間を短縮できるソリューションをお探しのお客様に最適です。